英國abi_BM8500電路板故障檢測儀簡介：

    英國ABI公司的BM8500是一款多功能且易于使用的電路板故障測試儀. 它提供電路板檢測功能, 幾乎含蓋了多種類型的電路板的檢測能力。 

    無論在電路板的設計驗證, 生產測試, 半導體器件測試, 生產或是一般維修保養, 以及你的電路板是模擬還是數字的, 或是混合型的電路板, BM8500都會是有效的測試工具。

針對您測試要求所提供的解決方案...

    對于現今電子業界的快速變化，求新、求變的市場需求特性，無論是從事設計，生產，試驗還是故障維修，都在向電子工程師提出各項的挑戰。電子電路變得更快，更小，更便宜和更復雜。對測試和維修的成本效益也變得相對性的提高很多。因此，您的測試設備能否滿足你的需求，而來應對這一連串爆發性的技術變革？如果了解到這個問題，說明你已在尋求解決方式的路上了。

    盡管目前的電子技術日新月異，但其故障情形的基本性質仍是相同的：故障的集成電路(ICs) 會無法正常動作，故障的二極管會呈現開路或短路的狀態，故障的電容器會呈現短路的故障現象。現今會造成電路板上故障的情況跟10年前的是相同的情形。但今天我們快速的找到這些故障點。 “高經濟效益的維修工作” 的重心并不在于能不能修復電路板，而是在于需要花費多少的時間以及人力來修復一塊電路板。

    以經濟學來說，維修費用也包括其測試設備。而BM8500電路板故障測試儀在其廣泛的應用上具有相當高的成本效益。它包含了一個高規格儀表控制軟件，且易于工程師來操作使用。硬件是安裝在一個包含PC的標準19寸機架式機箱中，而BM8500是一個模塊化系統，因此可以為定應用進行客制化的配置。

一、BM8500電路板故障檢測儀系統構成

1.系統硬件測試平臺：（各個測試單元可根據測試需要擴充測試模塊以達到需要的測試通道）

1)多電源數字集成電路測試單元（數字電路測試單元）：可擴充：2048路測試通道；

2)模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）；

3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；

4)三維立體V-I-F動態阻抗測試單元（動態阻抗測試單元）可擴充：2048路測試通道；

5)可編程程控電源單元：可根據測試需要擴充電源通道

6)硬件測試框架；

2.可編輯軟件測試平臺：

1)非代碼編程：測試流程管理，形成流程化、標準化、信息化的測試程序；

2)代碼編程：自動化、半自動化電路板整板測試，實現電路板批量化測試、電路板生產檢驗測試、電路板一致性分析測試。

3.測試夾具：

1)測試夾具：日常手工測試所需要的夾具；

2)治具：電路板整板測試的測試工裝（定制：包括：針床、接口板等）

（一）BM8500電路板故障檢測儀系統硬件測試平臺功能：

1.多電源數字集成電路測試單元（數字電路測試單元）：可擴充：2048路測試通道；單元由ABI-6500模塊*1組成

1)64*1通道（可擴充至2048通道）

2)數字器件功能測試，管腳電壓，管腳連接狀態，溫度拐點系數，數字V-I測試

3)高級邏輯時序發生器

4)電路板故障高級查找功能

5)短路追蹤（通斷測量）

6)未知型號器件的判別

2.模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測試，矩陣測試；

2)24路測試通道，2通道探筆測試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測試通道；

3)多種器件的V-I, V-T, I-T曲線測試；

4)模擬集成電路及分立器件測試功能。

3.三維立體V-I-F動態阻抗測試單元（動態阻抗測試單元）可擴充：2048路測試通道；單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規格：64路測試通道+4路探棒測試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測試模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測試；

3)矩陣測試:對管腳間的V-I（阻抗）曲線測試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點的電氣參數值(V/I)：電壓、電流具體數值；

5)設備可以64通道為步進擴充到2048路測試通道。

4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）單元由ABI-6350模塊*1組成

規格：集成8種常用測試儀器于一體；

1)3通道數字示波器；

2)2通道任意波形發生器；

3)2通道數字電壓表；

4)1通道數字電流表；

5)1通道數字電阻表；

6)1通道頻率計；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定輸出電源。

5.可編程程控電源單元；單元由ABI-1200模塊*1組成

規格：三路可調輸出，可串并聯；通道隔離；

每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

具備過壓、過流保護

遠端電壓監測補償功能

6.硬件測試框架 

英國原產19英寸機架式含計算機（可以安裝六組模塊）

（二）可編程軟件測試平臺功能 

中英文軟件，可通過編程軟件對模塊進行操作控制 

1.具有測試流程記憶功能（軟件具有強大的測試流程編輯和記錄功能）

2.測試流程的制定貫穿各個測試過程，使電路測試過程形成標準的測試流程（維修流程、生產流程、 測試流程）。可以按照測試要求，保存流程測試的步驟和數據，形成標準的測試流程。測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標準化、工藝化。

3.記錄多種測試信息。軟件可將標準電路板上測量到的管腳電壓、連接關系、功能測試結果等信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試流程中，方便隨時與其他電路板進行對比，大大簡化了測試中需要重復對比的工作。

4.軟件在測試流程中允許用戶加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網頁鏈接、視頻等，大大提升了測試效率。

5.圖形化測試庫編輯器，圖形化定義輸入激勵信號及測試記錄輸出的標準響應信號，快速建立元器件與電路板測試庫，元器件與整板測試庫擴充簡單、快捷. 非專業人員可以快速擴充測試庫。

6.*測試數據記錄并生成自定義檢測報告。系統的測試數據可以根據需要定制生成自定義測試報告。測試報告可以包含用戶關注的測試數據與測試結果。生成用戶測試報告，方便測試數據的保存。

7.*中文、英文測試操作軟件，中文軟件漢化到各級菜單（漢化版），提供免費軟件的升級服務；

8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對測試的每個步驟進行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個編程命令。

（三）測試夾具功能

1.測試夾具附件，包括：DIL等多種器件測試夾具1套（日常手工測試所需要的夾具）；

2.治具需要定制服務：電路板整板測試的測試工裝（包括：針床、接口板等）；

3.可選配件：SOIC測試夾具、離線測試盒、分立器件測試探筆套裝等。

二、英國abi_BM8500電路板故障檢測儀系統功能特點

1.*硬件系統模塊化設計，可根據要求擴充測試模塊和測試通道。

2.*軟件系統測試過程流程化設計，可以通過非編程方式實現測試過程流程化：保存流程測試的步驟和數據，形成標準的測試流程。以后的測試就

3.按照流程步驟進行測試，得出相應的結果，并形成數據對比報告。測試流程的制定貫穿各個測試過程，并不斷測試流程。實時將測試經驗、測試信息擴充到測試流程工藝中。完成了流程化設計的電路板可以實現人工快速、半自動化故障排查及板級系統測試，提高排故和測試效率。

4.*測試數據記錄并生成自定義檢測報告。系統的測試數據可以根據需要定制生成自定義測試報告。測試報告包含用戶關注的測試數據與測試結果。生成用戶測試報告，方便測試數據的保存。

5.*多電源數字電路測試模塊具備64通道數字集成電路在線、離線功能測試（可擴充到2048通道），每個通道可以根據需要分別獨立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅動或V/I曲線測量；可進行自定義測試，器件與整板的自定義仿真測試。

6.*具備閾值電平臨界點掃描測試功能，確定標準板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩定性。

7.系統可對多種器件進行端口測試： V-I、V-T、V-I-F測試.二維V-I測試低達1Hz頻率，三維測試頻率高達到10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進行可控硅元器件或FET的功能測試。

8.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關的故障。檢查與頻率特性有關的器件或電路板，三維立體圖形測量測量方式，適合數字及模擬集成電路與電路板的測試。

9.*系統各個模塊在同一個專業平臺操控下同時運行，完成流程化、步驟化、標準化測試并生成自定義測試報告。

10.*集成8種測試儀器于一體：3通道數字示波器、2通道任意波形發生器、2通道數字電壓表、1通道數字電流表、1通道數字電阻表、1通道頻率計、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規測試儀器可以并發操作，步驟過程可以記錄存儲并可對比，測試數據可以量化，并可以形成測試報告，可對電路板進行仿真測試、調試測試、一致性測試等整板測試。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統軟件來控制，三個通道可以支持串并聯以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應器模塊可根據流程設計，自動開啟和關閉測試所需的電源。電源配合其他模塊使用，可實現整板測試與多電源測試的流程自動化。

12.多達上萬種的數字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴充與自定義器件測試庫。可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。

13.系統含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應晶體管、光耦器件、AD和DA數模轉換器件等模擬集成電路進行功能測試。 可進行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試等。

14.系統可對多種器件進行端口測試：V-I、V-T、I-T測試。測試頻率高達到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進行可控硅元器件或FET的功能測試.